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Schwerpunktthema
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Verantwortlicher Sprecher
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zugeordnet
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1 |
Elektronen- Ionenoptik, Geräte
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Burkhardt |
Burkhardt, Eibl, Plies |
2 |
FIB-Präparation, Nanoindenting |
Dreher |
Dreher, Burkhardt, Nickel, Kappler |
| 3 |
Analytische Elektronenmikroskopie |
Peranio |
Eibl, Peranio, Obst, Dreher |
4 |
Hochauflösende Elektronenmikroskopie, sub-eV Sub-Angström Mikroskopie |
Eibl |
Eibl, Peranio, Dreher |
5 |
industrierelevante Elektronenmikroskopie Materialwissenschaften |
Dreher |
Dreher, Eibl, Nickel |
| 6 |
Rasterelektronenmikroskopie/EPMA |
Schulz |
Wenzel, Schulz, Kappler, Nickel |
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